雲紋干涉儀

    雲紋干涉儀的特點是可以進行一維、二維的雲紋干涉試驗,測量面內位移U場及V場,若利用Tmymen Green量測甚至還可量得W場。由於儀器的激光源與干涉儀本身是用光纖柔性連接而成的,從而使得儀器有更大的機動性與靈活度、以及更大的適應範圍。此外雲紋干涉儀具有高精度平行光的光纖維直光管可以按用戶需要,單獨使用。

雲紋干涉儀可以在產業界有以下的應用:

  • 電子封裝件實時檢測,例如受溫度作用的變形特徵研究。
  • 另件的位移邊界條件的測量,作為有限元計算的邊界條件,實現混合法分析。
  • 殘餘應力檢測及分析。
  • 電子封裝件,特別如焊點變形的研究。
  • 材料科學研究,如半導體、複合材料、晶體材料的各種力學特性。
  • 其它可應用在高等研究和發展的包括:相移的應用和實現、載波法的應用和實現、時間及空間相移技術的發展等等、提高靈敏度及量測速度的方法研究。